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HSEM系列电磁铁霍尔效应测试系统由电磁铁、霍尔测试仪、控制器、样品变温选件等部分组成。有连续可变的磁场环境，可选±0.8T或±1.5T两种配置，有较丰富的温度选件，包含：室温、液氮单点、10K-400K闭循环低温选件、室温-1273K高温选件。
HSEM-06PS室温变场探针台霍尔测试系统可以放置4英寸的晶圆样品，采用多孔分区控制气体吸附固定，能提供可变的磁场环境，磁场大小±0.6T ,可安装6个探针臂。外部连接其他电测仪表可在室温下对芯片、晶圆和器件进行非破坏电学测试，比如不同磁场下电流、电压、电阻等电学信号等。
